1、IEC60747-5半導體分立器件及集成電路(1992);
2、IEC60747-5-2半導體分立器件及集成電路零部件,5-2:光電子器件--分類(lèi)特征及要素(1997-09);
3、IEC60747-5-3半導體分立器件及集成電路,5-3:光電子器件--測試方法(1997-08);
4、IEC60747-12-3半導體分立器件,12-3:光電子器件-顯示用發(fā)光二極管空白詳細標準(1998-02);
5、CIE127-1997LED測試方法(1997);
6、CIE/ISOLED強度測試標準。
國際照明委員會(huì )(CIE)1997年發(fā)表的CIE127-1997LED測試方法,把LED強度測試確定為平均強度的概念,并且規定了統一的測試結構和探測器大小,為L(cháng)ED的準確測試比對奠定了基礎。雖然CIE127-1997測試方法并非國際標準,但它容易實(shí)施準確測試比對,目前世界上主要企業(yè)都已采用。但是隨著(zhù)技術(shù)的快速發(fā)展,許多新的LED技術(shù)特性在CIE127-1997LED測試方法中沒(méi)有涉及。
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