顯示屏鹽霧測試報告辦理，鹽霧試驗GB/T2423.17-2008/IEC60068-2-11：1981電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法：試驗Ka：鹽霉

本試驗適用于比較具有相似結構的試樣的抗鹽露腐蝕的能力。

本試驗也適用于評定保護性能涂層的質(zhì)量以及均勻性。

使用時(shí)應考慮以下的限制：
1.本試驗不適合作為通用的鹽露腐獨試驗；

2.本試驗也不適用于在含鹽大氣中使用的單個(gè)試驗樣品的評定。

對于設備以及零部件，試驗提供了更符合實(shí)際情況的試驗條件以及單個(gè)試驗樣品的評定方法。但如果某些情況下為了確保質(zhì)量，相關(guān)規范要求個(gè)別試樣采用本試驗方法時(shí)，試樣應當作為整個(gè)組件或者設備的組成部分連同實(shí)際的保護性能設備一起進(jìn)行試驗。

試驗做用的鹽溶液濃度為百分之五，試驗溫度為35度，鹽溶液的PH值為6.5-7.2之間。

試驗期間，每個(gè)試驗樣品不應接觸，也不能與其他金屬部件接觸，因此試樣應安放好以消除部件之間的影響。

所有的暴露區域都應維持鹽霉條件，用面積80cm2的器皿在暴露區域的任何一點(diǎn)連續收集至少16小時(shí)的霧化沉積溶液，平均每小時(shí)收集量應在1mL-2mL之間。至少采用兩個(gè)收集器皿，器皿放置的位置不應受試樣的遮擋，以避免收集到試樣上的凝結的溶液，器皿內的溶液可用于測試PH值和濃度。
鹽霧試驗的時(shí)間一般為：16h，24，48，96，148，336，672小時(shí)。