EN61326-1性能標準:
性能標準A和B中定義的第一部分在EN 61326-1中保持不變。但是,2013版增加了與“允許的性能損失”相關(guān)的部分。如果制造商未確定最低性能級別或允許的性能損失,用戶(hù)可以根據設備或產(chǎn)品文檔的合理期望推斷它們。換句話(huà)說(shuō),產(chǎn)品的功能仍然可以通過(guò)2006版本中指定的用戶(hù)干預來(lái)恢復 - 這個(gè)版本只是有額外的措辭來(lái)澄清。EN61326-1排放標準:
2006版本參考CISPR 11:2003,而2013版本參考CISPR 11:2009 + A1:2010。CISPR 11:2009的第一次修訂已經(jīng)為“小型設備”在3米測試距離處建立了替代輻射發(fā)射限值,其中“小型設備”被定義為適合于距離地平面1.5米的圓柱形測試體積和1.2米的設備。放在平坦表面上時(shí)的直徑。EN61326-1基本環(huán)境中的免疫力:
靜電放電(ESD)的測試水平從EN 61636-1:2006中的±4 kV接觸放電和±4 kV空氣放電增加到EN 61326-1:2013中的±4 kV接觸放電和±8 kV空氣放電。這一變化旨在使標準更接近非實(shí)驗室環(huán)境。對于磁敏設備,EN 61326-1:2013增加了對工頻磁抗擾度(IEC 61000-4-8)的新要求,測試水平為3A / m。受影響的設備類(lèi)型包括霍爾效應傳感器和磁繼電器。
EN61326-1工業(yè)環(huán)境的免疫力:
2013版中的每個(gè)訂單項現在都有符合2006標準的性能標準。沒(méi)有進(jìn)行任何其他更改,使此部分基本相同。受控EM環(huán)境的免疫性:
EN 61326:2006有一個(gè)名為“Measurement I / O”的端口類(lèi)別,允許制造商定義測試級別(即沒(méi)有強制測試級別),并在產(chǎn)品文檔中說(shuō)明EUT的測試級別。在EN 61326:2013中,此端口類(lèi)別已被刪除。因此,先前屬于“測量I / O”類(lèi)別的端口現在將屬于剩余的“I / O信號/控制”類(lèi)別,其中所需的測試級別由標準定義,而不是由制造商。以上資料由環(huán)測威標準檢測整理發(fā)布,如有疑問(wèn)或需檢測認證歡迎與環(huán)測威標準檢測直接溝通。深圳環(huán)測威檢測機構擁有自建實(shí)驗室,為廣大客戶(hù)提供專(zhuān)業(yè)的各行各業(yè)的檢測認證服務(wù),深受廣大客戶(hù)信賴(lài)。