射頻標簽做可靠性試驗常見(jiàn)測試項目有哪些？射頻識別（RFID）技術(shù)是20世紀90年代開(kāi)始興起的一種非接觸的自動(dòng)識別技術(shù)，它是利用射頻信號和空間耦合或雷達反射的傳輸特性，實(shí)現對被識別物體的自動(dòng)識別。與傳統的磁卡、IC卡相比，該技術(shù)的最大優(yōu)點(diǎn)在于遠間隔和非接觸識別，因此完成識別工作時(shí)無(wú)須人工干預，適合于實(shí)現系統的自動(dòng)化且不易損壞，可識別高速運動(dòng)物體，操縱快捷方便。

RFID電子標簽可靠性試驗項目：
1、電磁兼容抗干擾試驗
靜電放電抗擾度試驗：接觸放電±15kV，空氣放電±15kV，放電次數正負極性各10次。
工頻磁場(chǎng)試驗：測試端口外殼端口，磁場(chǎng)強度1000A/m，測試方向X,Y,Z三個(gè)軸向。
脈沖磁場(chǎng)試驗：測試端口外殼端口，磁場(chǎng)強度1000A/m，試驗次數正負極性各10次，測試方向X,Y,Z三個(gè)軸向。
射頻電磁場(chǎng)輻射試驗：試驗等級3級，測試頻率80MHz-1000MHz,試驗場(chǎng)強10V/m。

阻尼振蕩磁場(chǎng)試驗：試驗等級5級，磁場(chǎng)強度100A/m。

2、環(huán)境適應性試驗
低溫試驗：-40℃，穩定2小時(shí)，試驗后讀取數據。
低溫貯存試驗：-50℃，貯存16h，試驗后讀取數據。
高溫試驗：+75℃，溫度2小時(shí)，試驗后讀取數據。
高溫貯存試驗：+85℃，溫度2小時(shí)，試驗后讀取數據。
溫度循環(huán)試驗：-40℃~+85℃，高低溫各保持3小時(shí)，溫度變化速率1oct/min,循環(huán)5次。
恒定濕熱試驗：溫度+85℃，濕度95％，貯存48小時(shí)，恢復到常溫保持2小時(shí)，讀取樣品數據。
鹽霧試驗：溫度35℃，5％NACL溶液，連續噴霧48小時(shí)，試驗后，外殼涂層不應出現銹蝕現象。
振動(dòng)試驗：10Hz-150Hz,加速度10m/s2，每方向振動(dòng)1小時(shí)。

機械沖擊試驗：沖擊波形半正弦波，加速度147m/s2,脈沖寬度11ms，試驗后應能讀取樣品數據。

3、防塵防水試驗
IPX8防水試驗：水深2米，試驗1小時(shí)，開(kāi)蓋檢查，殼體內部沒(méi)有進(jìn)水。
IP6X防塵試驗：抽負壓，沙塵箱中試驗8小時(shí)，開(kāi)蓋檢查，殼體內部沒(méi)有進(jìn)塵。

一般市場(chǎng)用戶(hù)在進(jìn)行RFID電子標簽采購時(shí)，均要求提供國家認可的第三方權威檢測機構出具的有效檢測報告。

以上資料由環(huán)測威整理發(fā)布，如有疑問(wèn)或需檢測認證歡迎與環(huán)測威檢測直接溝通（4008-707-283）擁有自建實(shí)驗室，為廣大客戶(hù)提供專(zhuān)業(yè)的各行各業(yè)的檢測認證服務(wù)，深受廣大客戶(hù)信賴(lài)。