GB/T17626靜電放電抗擾度試驗辦理機構。靜電放電抗擾度試驗最新標準GB/T17626.2-2006 等同于IEC61000-4-2:2001，靜電放電是普遍存在的自然現象（當充有電荷的物體靠近或接觸一個(gè)導體時(shí)，電荷就要發(fā)生轉移，這就是靜電放電）。無(wú)處不在的影響著(zhù)電子產(chǎn)品，是一種危害程度極高的電磁能量。只有提高電子產(chǎn)品抗靜電能力水平。才能保證電子的安全使用。電子靜電抗擾度測試根據ISO10605 GB/T19951-2005執行一般常說(shuō)的靜電放電測試是指IEC61000-4-2標準。靜電放電的實(shí)驗主要模擬的人體帶電直接接觸被試物品，所進(jìn)行的放電。
靜電放電的起因有多種，但GB/T17626.2-2006主要描述在低濕度情況下，通過(guò)摩擦等因素，使人體積累了電荷。當帶有電荷的人與設備接觸時(shí)，就可能產(chǎn)生靜電放電。
試驗目的：
試驗單個(gè)設備或系統的抗靜電干擾的能力。它模擬：
（1）操作人員或物體在接觸設備時(shí)的放電。
（2）人或物體對鄰近物體的放電。
靜電放電可能產(chǎn)生的如下后果：
（1）直接通過(guò)能量交換引起半導體器件的損壞。
（2）放電所引起的電場(chǎng)與磁場(chǎng)變化，造成設備的誤動(dòng)作。
直接放電（直接對設備的放電）：接觸放電為首選形式；只有在不能用接觸放電的地方（如表面涂有絕緣層，計算機鍵盤(pán)縫隙等情況）才改用氣隙放電。
間接放電：水平耦合，垂直耦合。
注：圖中省略的Cd是存在于發(fā)生器與受試設備，接地參考平面以及偶合板之間的分布電容，由于此電容分布在整個(gè)發(fā)生器上，因此，在該回路中不可能標明。
試驗方法：
有型式試驗（在實(shí)驗室進(jìn)行）及安裝現場(chǎng)試驗兩種，標準規定以前者為主。 試驗中一般以1次/秒的速率進(jìn)行放電，以便讓設備對試驗未來(lái)得及響應另外正式試驗前要用20次/秒的放電速率，對被試設備表面很快掃視一遍，目的找出設備對靜電放電敏感的部位。試驗電壓要由低到高逐漸增加到規定值。
1）單次放電。2）在選定點(diǎn)與地之間進(jìn)行放電。3）每個(gè)點(diǎn)上至少放電10次（正或負極性）。4）相鄰兩次放電之間至少間隔1秒在選擇放電點(diǎn)的時(shí)候，則用每秒20次的放電速度進(jìn)行，著(zhù)力于尋找可能靜電放電敏感的點(diǎn)。 對于鄰近物體間的放電，可通過(guò)對接地板和試品附近（相距250px）的金屬板（1250px×1250px）放電來(lái)模擬。
試驗結果應依據受試設備的功能喪失或性能降級進(jìn)行分類(lèi)。相關(guān)的性能水平由設備的制造商或試驗的需求方確定，或由產(chǎn)品的制造商和購買(mǎi)雙方協(xié)商同意。建議按如下要求分類(lèi)：
a）在制造商、委托方或購買(mǎi)方規定的限值內性能正常
b）功能或性能暫時(shí)喪失或降低，但在騷擾停止后能自行恢復，不需要操作者干預；
c）功能或性能暫時(shí)喪失或降低，但需操作人員干預才能恢復；
d）因設備硬件或軟件損壞，或數據丟失而造成不能恢復的功能喪失或性能降低。
由制造商提出的技術(shù)規范可以規定對受試設備產(chǎn)生的某些影響是不重要的，因而這些影響是可接受的。在沒(méi)有適用的通用標準、產(chǎn)品標準或產(chǎn)品類(lèi)標準時(shí)，這種分類(lèi)可以由負責相應產(chǎn)品通用標準、產(chǎn)品標準和產(chǎn)品類(lèi)標準的專(zhuān)業(yè)標準化技術(shù)委員會(huì )制定用于作為明確性能判據的指南，或作為制造商和購買(mǎi)方雙方協(xié)商的性能判據的框架。
