電腦硬盤(pán)做MTBF測試參數及方法是什么？可以聯(lián)系我司環(huán)測威檢測了解詳情。電腦硬盤(pán)是計算機最主要的存儲設備。硬盤(pán)（港臺稱(chēng)之為硬碟，英文名：Hard Disk Drive， 簡(jiǎn)稱(chēng)HDD 全名溫徹斯特式硬盤(pán)）由一個(gè)或者多個(gè)鋁制或者玻璃制的碟片組成。這些碟片外覆蓋有鐵磁性材料。產(chǎn)品想要生產(chǎn)出售就得辦理MTBF壽命測試。需要做MTBF測試歡迎來(lái)電4008-707-283聯(lián)系我司環(huán)測威檢測進(jìn)行辦理。
首先MTBF有三種測試方式，都可以完成MTBF測試的需要，他們分別是，預計計算法、實(shí)驗試驗法、失效統計法。 那么三種方式企業(yè)應該如何選擇呢？
1、相關(guān)標準，目前用于MTBF預計計算的主要標準為MIL-HDBK-217F，對應國內版本為G J B 2 9 9 B。該標準為美軍的可靠性預計手冊，用于MTBF的預計計算。該標準從95年發(fā)布最后一版后不再對其進(jìn)行更新維護，這本身也反應了標準本身的局限性。
2、預計法的局限性，MIL-HDBK-217F采用了應力分析法和元件計數法分析產(chǎn)品的MTBF。該方法通過(guò)元器件的數量以及零件的故障率評估產(chǎn)品的無(wú)故障時(shí)間。這種方法假設了產(chǎn)品的器件都工作在預期的工作應力下，實(shí)際上由于不可預期的因素，產(chǎn)品可能會(huì )有瞬間的過(guò)應力。另外還有一種情況就是部分對產(chǎn)品壽命有影響的應力難以評估周全。沒(méi)有充分考慮產(chǎn)品的生產(chǎn)工藝、人為因素對產(chǎn)品可靠性的影響。同時(shí)在計算參數的選擇上受計算人員對系數的掌握和了解程度影響很大，因此和實(shí)際值相比會(huì )有很大的差異。
3、基本公式及參數
Failure rate=λp = λb *πE*πQ*πC*πS*πA*πL*πT
λb:零件基礎失效率
πE 環(huán)境因素Environment factor）
πQ 品質(zhì)因素：（Quality factor）
πA 應用因素：（Application factor）
πC 復雜性因素：（Quality factor）
πL 累計因素：（Learning factor）
πS 電應力因素：（Electrical Stress factor）
πT 溫度因素：（Temperature factor）
這種方法大的優(yōu)勢是可以在有限的時(shí)間里完成對產(chǎn)品MTBF值的較準確預估。
1、試驗方法，實(shí)驗方式主要有：全壽命試驗、定時(shí)截尾試驗、定數截尾試驗。
全壽命試驗要求所有樣品都在試驗中最終都失效，只需要采用簡(jiǎn)單的算術(shù)平均值就可以計算出MTBF。但事實(shí)上需要試驗樣品在試驗過(guò)程中全部失效，所需要的試驗時(shí)間可能長(cháng)大幾年、十幾年甚至上百年，因此此方法只可能使用于產(chǎn)品的壽命時(shí)間比較短的產(chǎn)品。
定時(shí)截尾試驗指試驗到規定的時(shí)間終止。
定數截尾試驗指試驗到出現規定的故障數或失效數時(shí)而終止。
2、計算方法 MTBF=AF
AF：Accelerate Factor，加速因子
T：Total Power on Time，總的開(kāi)機運行時(shí)間
X2（α，2r+2）：卡方公式
C：Confidential Level，信心度水平
α：生產(chǎn)者的冒險率，即：1-C
r：失效數，Number of Failures
加速因子AF即為產(chǎn)品在正常使用條件下的壽命和高測試應力條件下的壽命的比值。
如果溫度是產(chǎn)品一的加速因素，一般采用Arrhenius Model（阿氏模型）。當產(chǎn)品壽命適用于阿氏模型，則其加速因子公式為：AF=e{ Ea/Kb*[1/Tn-1/Ta]}。
Ea：活化能，單位eV
Kb：Boltzmann Constant波茲曼常數，（0.00008623eV/°k）
Tn：正常操作條件溫度（°k）
Ta：加速壽命試驗條件溫度（°k）
E：2.718
活化能Ea定義：是分子與化學(xué)或物理作用中需具備的能量，單位為eV （electron-Volts）。用以超越阻隔潛在故障與實(shí)際失效所需的能量。
活化能高，表示對溫度變化影響比較顯著(zhù)。當試驗的溫度與使用溫度差距范圍不大時(shí)，Ea可設為常數。
一般電子產(chǎn)品在早夭期失效的Ea為0.2~0.6eV，正常有用期失效的Ea趨近于1.0eV；衰老期失效的Ea大于1.0eV。
根據Compaq可靠度工程部（CRE）的測試規范，Ea是機臺所有零件Ea的平均值。如果新機種的Ea無(wú)法計算，可以將Ea設為0.67eV，做常數處理。
卡方公式是一個(gè)評估可信度的公式。信心度水平相當于對MTBF準確性的要求，因此冒險率越小，X2就越大，計算的MTBF越小，可信度越高。同時(shí)失效數r越大，不良率就高了，X2自然也變大，在同樣的時(shí)間下MTBF就會(huì )變小。
例：30臺樣品，信心度為0.6，MTBF目標值為240000小時(shí)，用戶(hù)使用溫度為35度，測試溫度為40度。假設在測試11天后，有一臺失效，替換失效樣品，即仍然是30臺接著(zhù)測試，求繼續測試時(shí)需要的總時(shí)間t及MTBF測試要用的天數d。
解：MTBF=240000h，AF=1.47，C=0.6，α=1-C=0.4，r=1， X2（α，2r+2）=4.04
此方式是目前選擇較多的方法。
按MTBF測試標準，準確的提供樣品數量進(jìn)行相關(guān)測試。
